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二次靶 -k8凯发森林舞会

添加时间:[2014/5/11]浏览次数:[1463]次作者:[k8凯发森林舞会]

二次靶

采用三维立体光路,实现划时代的创新,针对元素的检测,可靠性、抗干扰性、精度、检出限,有了革命性的突破,全面提升了产品性能。
1)      世界顶尖级先进技术:
1、  二次靶技术:
二次靶技术:如图所示:图1a是从x光管出射的原级x射线。图1b是使用滤光片的出射谱。图1c为二次靶出射谱,很明显二次靶技术使散射背景很弱,而弱的散射背景使得样品出射谱的散射背景强度很低。

2、空间三维立体光路:根据偏振光的特性安排的空间立体光路。我们让原级x射线以45°入射角入射到二次靶上,二次靶上出射的散射 (反射)线再以45°角入射到样品。这样的空间三维立体光路起到一个除去二次靶材散射背景的作用,使散射背景大大降低。
3、ux-800p应用了精心设计的滤光片,基本做到单色激发。
4、高管压x光管,结合偏振二次靶的作用,使cd、sb、ba等元素的检出限大大降低。
谱图对比:图2和图3分别为传统edxrf仪器和ux-800p测塑胶样品的谱图的对比。从图2图3中不难看出,与传统的edxrf ux-220相比,ux-800p的散射背景明显降低,各个待测有害元素特征峰的峰背比都有了显著的改善,尤其以cd和cr最为明显。
图2.传统edxrf检测欧盟pe标样谱图
图3.偏振二次靶ux-800p检测欧盟标样谱图


 

p3解决产业六大难题:
1、解决高溴中的pb、hg检测,检测均下限低于20ppm,从图4可以看出,即使20ppm的pb,也能可靠稳定的检测出来,并且线性相当不错。

图4.ux-800p含检测10%br的pe样品
 
2、  解决锡中的cd检测,检测下限低于20ppm,图5是 环保焊锡中200ppm以下cd的检测,使用传统的edxrf几乎是不可能的,但采用ux-800p,可以对焊锡中的20ppm的cd进行稳定可靠的检测,完全可以满足rohs要求。                  
图5.是 环保焊锡中200ppm以下cd的检测
 
 
 
3、能对含pb同时含as的样品进行准确检测,如图6 ux-800p经过合适的配置,可以准确地检测as的含量,进而可以准确计算pb的含量。

图6. ux-800p检测含pb同时含as的样品
 
4、  应对玩具指令中的八大重金属进行高精度检测,检测下限均达到10ppm(如图7)

图7. ux-800p测试玩具八大重金属谱图

 
5、能对含有高含量bi样品中的pb进行准确检测;
6、能对含有很高的ti的样品中的cl进行准确检测;
以上几种是目前传统xrf仪器无法解决的难题,ux-800p彻底解决了。而ux-800p功能远不止这些,它能广泛地应对各种环保指令包括rohs、en71、astm-f963、reach等等。

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